机器影象和测量系统-激光位移传感器

2005-12-08 11:06:22　来源: [!--befrom--]　网友评论 0 条点击查看

LK-G 高速度、高精度CCD激光位移传感器

主要特色有：全新开发的Li-CCD （直线性CCD），高精度Ernostar 物镜以及其它独一无二的先进技术。

六种传感头的组合构架可进行高精密测量、高精度测量以及长距离测量。可对透明物体、塑料以及金属进行可靠的测量。

使用ABLE功能配合全新开发的测量算法就可以对漫反射、透明或半透明物体进行测量。

全新设计的多功能控制器，内置指示器和数据储存。

请使用上部的下拉式服务菜单查看本产品的详细内容。

对于表面粗糙的物体，其表面不规则性会引起漫射，而宽光点型可以消除这种漫射的不良影响，避免数据产生波动。

30m的超小型光点能够可靠地检测小物体，它是进行轮廓测量的最佳选择。

LK-G10/G15系列的高精度测量实例。0.01µm的高分辨率。

LK-G150/G155系列的长距离测量实例。测量范围：5.91±1.57" (150±40mm)。

关于本文章的